礦石分析儀
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技術(shù)參數(shù)
| 能量分辨率 分析精度RSD 最低檢出限 測定范圍 元素含量分析范圍 分析時間 | 100±5eV ≤0.05% Na≤0.1%；Mg、Al、Si≤0.05%；P、S、Cl、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe≤0.001% 9F~92U 1ppm—99.99% 30-200秒（時間可選） |
| 光路結(jié)構(gòu) 樣品旋轉(zhuǎn)臺 X射線管 1次濾光片 真空系統(tǒng) 自動進樣器 圓柱腔體 冷卻方式 制冷方式 類型 | 適合粉末樣品檢測的上照式結(jié)構(gòu) 電壓：24V，電流：1.5A，旋轉(zhuǎn)速度：4r/s Ag靶 5種（含OPEN為6種）自動切換 功率550W，抽氣時間：10秒，抽氣速率：4升/秒，真空度：10-2pa，內(nèi)置停泵防返油裝置 350mm(D)×300mm(W)×500mm(H)，行程150mm 170×39mm 風冷（附風扇） 電子制冷（無需液氮） 硅漂移檢測器（FAST-SDD） |
| 測試環(huán)境 溫度 相對濕度 電源 | 大氣、真空 10~30℃（溫度變化2℃hr以內(nèi)、溫度變化幅度在10℃以下） 35%-70%（但不得有結(jié)露） 輸入電壓：電壓 AC220V±10V，頻率：50Hz±5Hz |
| 分析原理 分析方法 測試對象 照射面積 | X射線熒光分析法 能量色散型 固體·液體·粉末 1、3、5、10mmΦ：4種自動切換 |
| 主機尺寸 主機重量 | 700(W)×650(D)×800(H)mm 約85kg |
性能參數(shù)
硬件結(jié)構(gòu)
環(huán)境與操作條件
分析測試
尺寸與重量儀器特點
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獨特的上照射式光路結(jié)構(gòu)，測量粉末樣品具有光路短、激發(fā)效率高、不污染探測器、維護方便、測量精度高、穩(wěn)定性能好 等優(yōu)點； | ||
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采用美國Amptek公司最高性能的硅漂移探測器，結(jié)合自主知識產(chǎn)權(quán)的數(shù)字多道專利分析技術(shù)，儀器的分辨率優(yōu)于100ev (Mnkα），對Na、Mg、Al等輕元素分辨率優(yōu)于60ev，是目前同類型儀器分辨率最高的，從而有效的提高了元素特別Na、 Mg、Al等輕元素的檢出限，比其他品牌同類儀器高出一個數(shù)量級，成為我們獨特的分析優(yōu)勢之一; | ||
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| 自動進樣，定位準確，進樣空間大，粉末積灰易吸塵處理，維護方便； | ||
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| 樣品可以旋轉(zhuǎn)測量，360度無死角測量，可以最大程度減弱樣品表面不均勻帶來的測量偏差，測量結(jié)果更準確； | ||
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真空系統(tǒng)特殊設計，最大限度的提高了輕元素的靈敏度和穩(wěn)定性。采用有專門控制單位的真空系統(tǒng)，消除了空氣對低能X 射線的阻擋，30分鐘不漏氣，內(nèi)置停泵防返油裝置，充氣時不返油到檢測單元，大大提高了Na、Mg、Al、Si輕元素的檢 測靈敏度； | ||
 工作曲線漂移校準 | ||
采用自動尋峰、S標樣測量等方式，通過校準S標樣達到校準工作曲線的目的，確保了儀器短期穩(wěn)定性和長期穩(wěn)定性，一般 一年標定一次，無需頻繁標定。 |
儀器光路結(jié)構(gòu)
